■ JSM-IT200 Series
ฟังก์ชั่นการแตกตัว : (High vacuum mode) 30nm(30kV), 8.0nm(3kV), 150nm(1.0kV)
(Low vacuum mode) 40nm (30kV BED)
อัตราส่วนภาพ : ×5 ~ 30 ล้าน(กำหนดขนาดที่แสดง 128mmx269mm)
อัตราที่แสดง : ×14 ~ 839.724 อัตราภาพที่ฉายบนมอนิเตอร์ (กำหนดขนาดที่แสดง 358mmx269mm)
ฟังก์ชั่นอัตโนมัติ : การปรับ filament การปรับ gun alignment การปรับโฟกัส/เอียง(Astigmatism)/ความสว่าง/คอนทราสต์
ขนาดตัวอย่างสูงสุด : 150mm(ศูนย์กลาง)×48mm(ความสูง)
โหมดภาพ : ภาพอิเล็กตรอนทุติยภูมิ(Secondary Electron Image) ภาพ REF ภาพส่วนประกอบ ภาพขรุขระ ระบบภาพสามมิติ(ประเภท LV/LA เท่านั้น)
จอสังเกตการณ์ : แผงสัมผัสขนาด 24 นิ้ว
ตัวเลือกหลัก :เครื่องตรวจจับอิเล็กตรอนแบบสะท้อนแสง เครื่องทดสอบอิเล็กทรอนิกส์ทุติยภูมิต่ำ (Low vacuum secondary electronic tester) เครื่องวิเคราะห์รังสีเอกซ์แบบกระจายพลังงาน Motor drive stage, Stage navigation system, Chamber scope, Operation panel, Software 3D measuring, Operation table
Office
Tel: +66(0)2-664-1891
CHUREERAT PITTAYARANGSAN (Mo)
Mobile: +66(0)94-449-3269
Email: chureerat_p@ryokosha.co.jp
NATSUDA LAKORNPHON (Kao)
Mobile: +66(0)94-754-5519
Email: natsuda_l@ryokosha.co.jp
TIPAYARUT SUEROJ(East)
Mobile: +66(0)94-754-5635
Email: tipayarut@ryokosha.co.jp